Genau hier setzt das Forschungsprojekt ZuverSichT (»Zuverlässige Sächsische GaN-Technologien«) an. Gemeinsam mit seinen Projektpartnern entwickelt das Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwicklung Adaptiver Systeme, neue Methoden, um die Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen auf Basis von Galliumnitrid (GaN) gezielt zu analysieren und zu verbessern. Im Mittelpunkt stehen innovative Teststrukturen, Messverfahren und Simulationsmodelle, mit denen sich Alterungs- und Ausfallmechanismen frühzeitig erkennen lassen.

Die gewonnenen Erkenntnisse fließen direkt in den Entwicklungsprozess neuer Halbleiter ein. So können Unternehmen leistungsfähige und robuste elektronische Systeme schneller entwickeln, Entwicklungsrisiken reduzieren und die Grundlage für energieeffiziente Anwendungen der nächsten Generation schaffen. Gleichzeitig stärkt das Projekt die Innovationskraft der Mikroelektronik in Deutschland und leistet einen Beitrag zur Entwicklung zukunftsfähiger Schlüsseltechnologien.

Das Fraunhofer IIS entwickelt hierfür Methoden und Modelle zur Entwurfsunterstützung und Zuverlässigkeitsbewertung von GaN-Schaltungen im Sinne eines »Design for Reliability« (DfR). Dazu gehören thermische Simulationen, Zuverlässigkeitsmodelle für FEoL-Prozesse, deren Integration in das Process Design Kit (PDK) sowie die Entwicklung und Analyse von Heizer-Strukturen und geeigneten Messmethoden zur Qualifizierung.

Projektpartner: Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwicklung Adaptiver Systeme, Fraunhofer IKTS, Fraunhofer IWS, X-FAB Dresden GmbH & Co.KG, AXO Dresden GmbH, wiatec GmbH und EDC Engineering GmbH

Förderzeitraum: 15.08.2025 – 31.12.2027