Webinar  /  08. Juni 2022, 15.00 - 16.00 Uhr

Webinar-Inhalt

Unser Webinar zur IC-Zuverlässigkeit gibt einen Überblick über Messungen und Simulationen zur Gewährleistung der Zuverlässigkeit von ICs, vor allem bei Anwendungen mit langer Lebensdauer. Insbesondere beleuchten wir den Ablauf der Technologiequalifizierung auf der Grundlage von Zuverlässigkeitsmessungen auf Waferebene bis hin zu Degradationsmodellen, die in Alterungssimulationen verwendet werden können, um die Zuverlässigkeit eines Designs vor der Fertigung virtuell zu untersuchen.

Die Webinarsprache ist Englisch.