Wir bieten verschiedene Software-Werkzeuge an, mit denen die Auswirkungen von Fehlverhalten oder Alterung frühzeitig in die Entwurfsphase eines elektronischen Systems einbezogen werden können:

• Analysewerkzeug für potentielle Gefährdungen durch Elektromigration und zur sicheren Auslegung von Leiterbahnen und Verbindungen (Add-on-Tool für Cadence, für andere Designsysteme anpassbar)
  
• Analoger Fehlersimulator aFSIM zur Ermittlung der Auswirkung von parametrischen und Haftfehlern (Stand-Alone Software, arbeitet mit verschiedenen Netzwerksimulatoren zusammen)
  
• Tool HELÏOS zur schnellen thermischen Chip-Analyse inklusive einer nahtlosen Ankopplung an die elektrische Schaltungssimulation (derzeit Add-on für Cadence, für andere Designsysteme anpassbar)
  

Außerdem unterstützen wir unsere Kunden mit folgenden Dienstleistungen:

• Erstellung von Alterungsmodellen für gemessene Degradationseffekte und Abbildung in Simulationsmodelle
• Integration von Alterungsmodellen in vorhandene Entwurfswerkzeuge und Designflows
• Modellierung von statistischen Zusammenhängen über mehrere Hierarchieebenen
• Bewertung von Selbsttest- und Fehlertoleranz-Maßnahmen
• Fehlerdiagnose, -lokalisierung und -modellierung